本試驗法之目的為決定元件及裝備在地球表面暴露於太陽(yáng)輻射環(huán)境時(shí)產(chǎn)生之效應(包括熱、機械、化學(xué)、電性等)。範圍
本試驗法所模擬環(huán)境之主要特徵為控制溫度條件下之太陽(yáng)光譜能量分布及吸收的能量強度,以決定元件及裝備暴露於太陽(yáng)輻射環(huán)境時(shí)產(chǎn)生之效應。本試驗法包括三個(gè)試驗程序:
限制
無(wú)限制。測試步驟
試件必須依據相關(guān)規範規定之時(shí)間暴露在下述三個(gè)試驗程序之一:
每循環(huán)24小時(shí),其中8小時(shí)連續照射,16小時(shí)保持黑暗,依需求重複執行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)8.96 kWh/m2,約近似於自然條件之*嚴厲狀況)。
每循環(huán)24小時(shí),其中20小時(shí)連續照射,4小時(shí)保持黑暗,依需求重複執行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)22.4 kWh/m2)。
試驗時(shí)間依相關(guān)規範的要求,一般較常採用下述三者之一試驗設置溫度之容差為±2℃,輻照度(irradiance)容差如表1所示。
若本試驗法須控制濕度環(huán)境,則相關(guān)規範必須說(shuō)明此濕度之控制係在輻射照射週期或在黑暗週期或整個(gè)試驗時(shí)間。
表1:光譜能量分布與允許容差 | ||||||
光譜範圍 | 紫外線(xiàn) B | 紫外線(xiàn) A | 可 見(jiàn) 光 | 紅外線(xiàn) | ||
波長(cháng)範圍 | 0.28mm~ 0.32mm | 0.32mm~ 0.40mm | 0.40mm~ 0.52mm | 0.52mm~ 0.64mm | 0.64mm~ 0.78mm | 0.78mm~ 3.00mm |
輻照度 | 5 W/m2 | 63 W/m2 | 200 W/m2 | 186 W/m2 | 174 W/m2 | 492 W/m2 |
容 差 | ± 35% | ± 25% | ± 10% | ± 10% | ± 10% | ± 20% |
微信號