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溫度循環(huán) / 溫度沖擊試驗


溫度循環(huán) / 溫度沖擊試驗

溫度循環(huán) / 溫度沖擊試驗 在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種溫度環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現出來(lái),造成產(chǎn)品的損傷或失效,進(jìn)而影響到產(chǎn)品的可靠性。
溫度循環(huán)試驗:以每分鐘5~15度的溫變率,在溫度變化上做一連串的高低溫冷熱循環(huán)測試。
溫度沖擊試驗: 以每分鐘40度的溫變率或客戶(hù)指定條件在溫度急速變化上做極嚴苛條件之高低溫冷熱沖擊測試。
此試驗并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加嚴苛應力并加速老化因子于待測物上,藉此了解可能產(chǎn)生的潛在性損害系統設備及零部件的因素,以確認產(chǎn)品是否正確設計或制造。


常見(jiàn)失效模式
1.材料熱膨脹系數差異過(guò)大產(chǎn)生錫裂

2.阻值異常


參考規范
JESD 22-A104
IPC 9701


適用領(lǐng)域
消費性芯片、車(chē)用Board Level

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