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4.1.測試方法

1.制造標準GB/T10586-2006及GB/T10592-2008

2.檢定標準GB/T5170.2-2008及GB/T5170.5-2008 

3.滿(mǎn)足試驗標準:

GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗B:高溫試驗方法

GB/T2423.22-2012 試驗N:溫度變化試驗方法

GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗

4.2.高溫

⑴預熱上限溫度:+180

⑵升溫時(shí)間:常溫→+180 30min

注:升溫時(shí)間為高溫箱單獨運轉時(shí)的性能

4.3.低溫

⑴預冷下限溫度:-80

⑵降溫時(shí)間: 常溫→-80℃≤80min

注:降溫時(shí)間為低溫箱單獨運轉時(shí)的性能

4.4.沖擊溫度

⑴高溫沖擊溫度范圍:+60℃~+150

⑵低溫沖擊溫度范圍:-55℃~-10

溫度波動(dòng)度:≤±0.5(如按GB/T5170.2-1996表示,則為±0.5)

溫度均勻度:≤±2.0

4.5.溫度偏差

±2.0

4.6.吊籃轉換時(shí)間

5秒以?xún)韧瓿?/span>

4.7.沖擊恢復時(shí)間

5min以?xún)韧瓿?/span>

4.8 恢復條件

傳感器位置、控制器指示點(diǎn)、內箱幾何中心點(diǎn)、空載、冷卻水溫+30

4.9.試驗負載

試樣是5Kg塑料封裝集成電路)

4.10.暴露時(shí)間

≥15min

4.11.工作噪聲

A聲級≤70dB(A) 

(大門(mén)前1m離地面高度1.2m處,自由空間中)

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