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一品儀器 - 產(chǎn)品展示
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SSD高低溫老化試驗箱

?性能指標符合以下標準:

GB/T 2423.22-2012  環(huán)境試驗 第 2 部分:  試驗方法 試驗 N:  溫度變化;

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:  試驗方法 試驗 B:  高溫。

4.1.14  備需支持 SECS/GEM 協(xié)議

4.1.15 MTBA  (平均故障間隔周期)

 

SSD高低溫老化試驗箱

  • 詳情說(shuō)明

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